實(shí)用新型名稱：一種地磚平面度及缺陷的測量裝置
發(fā)  明  人：晏恒友；何謝文；晏劉武
專  利  號：ZL 201921424554.9
專利申請日：2019年08月29日
專利權(quán)人：常州市鐳爍光電科技有限公司
地     址：213100江蘇省常州市武進(jìn)區(qū)洛陽鎮(zhèn)圻莊村小四房組
授權(quán)公告日：2020年05月19日授權(quán)公告號：CN 210570807 U

摘要：本實(shí)用新型公開了一種地磚平面度及缺陷的測量裝置，涉及地磚檢測技術(shù)領(lǐng)域，包括機(jī)架、支撐腳、電機(jī)、測量臺(tái)、與地磚，所述機(jī)架的上端外表面固定安裝有置物架，且置物架的下端外表面設(shè)置有橫向移動(dòng)裝置，所述置物架的前端外表面固定安裝有支架，且支架的上端外表面活動(dòng)安裝有操作屏，所述置物架的一側(cè)外表面固定安裝有第一轉(zhuǎn)盤，所述置物架的一側(cè)外表面靠近后端的位置設(shè)置有調(diào)整板，且調(diào)整板的內(nèi)部貫穿有調(diào)位螺栓，所述調(diào)整板的一側(cè)外表面固定安裝有從動(dòng)桿，通過三組扇形掃描面對地磚進(jìn)行檢查，可以全面覆蓋地磚的測量表面，使得裝置能夠根據(jù)地磚的大小改變自身所處的位置，確保掃描面能夠全面覆蓋地磚。